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分解能テストチャート2 : USAF1951
● 1951USAF分解能テストチャートは1951年アメリカ空軍MIL-STD-150A規格で定義された顕微鏡光学の
分解能試験装置です。
設計は精密空間周波数の標本ステップの品揃えを示す多数のターゲットを提供する顕微鏡・カメラ 画像スキャナーなどのイメージングシステムの解析と検証を行うための装置です。(出展:Wikipedia)
GRATICULE社製品
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上記は基本チャートR70 仕様
上記は基本チャートR71の仕様
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概要 |
光学系機能:水平方向と垂直方向の1対の3バーチャートで構成されており、 各ラインは固有の線幅と空間を持ち、通し番号がふられています。 写真処理の過程における数的許容誤差の決定にこのチャートの使用が 最も一般的です。
【主な用途】 フォトリソグラフ・ナノテクノロジー・高倍率ビデオレンズ、 顕微鏡などや各種ビジョンシステムの解像力テスト用に使用 されます。
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特徴 |
■ 基本チャート 全体は50㎜角と75㎜角の基板上にパターンをクロム蒸着してあります。 100本/㎜~228本/㎜までを表示、ポジパターン、ネガパターンの 2種類からお選びいただけます。
■ ステージ目盛型 アルミニューム製スライド基板(76×25×1㎜)中央のガラスマウントに パターンを蒸着してあります。 400本/㎜~644本/㎜までを表示、ポジパターン・ネガパターンの2種類 からお選びいただけます。
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Applied Image社製品
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★上の写真はポジパターンです
★上の写真はネガパターンです *上記の商品をクリックするとカタログへ移動します。
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概要 |
光学系機能:写真処理の過程における数的許容誤差の決定に このテストチャートの使用が一般的です。
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特徴 |
■ 標準型大型タイプ 全体は100㎜角のガラス基板上に50×48㎜角の大きさで パターンをクロム蒸着してあります。 1本/㎜~228本/㎜(T20Mは512本ネガパターン)までを 48段階で表示、ポジパターン・ネガパターンの2種類から お選びいただけます。
*収納用Wood Boxのイメージ
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Applied Image社製品 1列サイクルマーク
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概要 |
パターンは渦巻パターンシングルと2列パターンがあり 各々ガラス基板に蒸着されています。 |
特徴 |
各パターンの黒線とスペースは従来の基本形と同じML-STD150Aに 準拠しています。 全体は102㎜角の大型基板を使用し、マークはサイクル/1㎜で 表示され、各パターンの空間周波数を直読することが出来るため、 パターン群対応表との照合確認が不要です。
■ サイクルマークチャート(1列)
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Applied Image社製品 2列サイクルマーク
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概要 |
パターンは基本チャートと同じ基準で蒸着され、マークは サイクル/㎜で表示パターン群は縦2列で配置されています。
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特徴 |
各パターンの黒線とスペースは従来の基本型USAF1951 チャートと同じ基準で蒸着され、ML-STD-ISOAに 準拠しています。 各パターンはサイクル/㎜表示で空間周波数を直読可能です。 また、パターン群は順序良く縦2列に配置され、スキャニングがより確実、容易になりました。
■ 連続2列配置サイクルマークチャート
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