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イメージ解析スケール Applied Image
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概要 |
様々な2次元形状の正確な計測を必要とするイメージ解析 に最適なマイクロメーターです。 円・正方形・ライン等9種の幾何学パターンが1枚のガラス 基板に蒸着されています。
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| 詳細 |
様々な2次元幾何学形状の正確な計測を必要とする画像解析に システムやビジョン計測システムの性能評価や性能管理に 欠かせない校正用スケールです。
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イメージ解析スケール スタンダードタイプ
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概要 |
光学倍率・スケール目盛・カメラのアスペクト比など の正確なカリブレーションにも最適です。
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| 詳細 |
光学倍率・スケール目盛・カメラのアスペクト比など の正確なカリブレーションにも有用です。 １枚のガラス基板上に、インチ規格・㎜規格の２種の 十字線スケールがクローム蒸着されています。
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概要 |
NIST/NBS1010A規格に基づきANS/ISO＃2に準拠した 精密な分解能ターゲットです。
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| 詳細 |
このターゲットは高倍率光学システムのフォーカシングテスト や分解能の決定に最適で各パターンの空間周波数(サイクル/㎜) が直読できシステムの正確な能力を迅速に評価できます。 縦横５本づづのラインパターンの空間周波数は56～510サイクル /㎜までになります。
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概要 |
最新の精密なイメージビジョンシステムに必要な センシングシステムの照明及びデテクターのカリ ブレーション用ステップの濃度ターゲットです。
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| 詳細 |
最新のイメージビジョンシステムのセンシング部 の照明及びデテクターのカリブレーション用と して設計されています。 12ステップ(透過率0～100％)でセンシングシ ステムのリニアリテイー評価には最適なND ターゲットです。
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概要 |
正確な測定が不可欠であるCCD・CMOSなどの幾何測定イメージ システムなどのカリブレーション用に設計された精密なライン ドット幅とドット直径のステージターゲットです。
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| 詳細 |
エレクトロニクスセンサーはピクセル振動によってしばしば見せ かけの解像力を示す場合がありますが、このターゲットの明確な 寸法のラインやドットをテストに使用することにより この問題を大幅に抑制します。
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*この商品はApplied Image社(米)の製品です
